X射線熒光鍍層測厚儀
簡要描述:X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備,提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
- 產(chǎn)品型號:X-strata 920
- 廠商性質:經(jīng)銷商
- 更新時間:2024-07-08
- 訪 問 量:1797
X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920是電子電鍍行業(yè)使用zui多的一款X射線無損鍍層測厚儀,適合PCB電子線路板電鍍層小點多點連續(xù)測試,電子線路板行業(yè)用戶zui多和口碑很好的一款設備。
X射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920特點概述:
1、新型號設計
快速分析(幾秒)1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格,例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺,滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品,例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
2、高性能、高精度、長期穩(wěn)定性
快速的分析帶來生產(chǎn)成本*化
測定元素厚度
優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量
3、堅固耐用的設計
可靠近生產(chǎn)線或在實驗室操作
生產(chǎn)人員易于使用
4、簡單的校準調(diào)試
在沒有標準片時,經(jīng)驗系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結果
方法建立只需幾分鐘
我們提供認證標準片以確保*度(A2LA 和 ISO/IEC17025)
預置了多種校準參數(shù)
/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法
的長期穩(wěn)定性:
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正,
確保穩(wěn)定的測試結果
例行進行簡單快 速的波譜校 準,可自 動檢查
儀器性能(例如靈敏性)并進行必要的修正
避免不同操作的結果偏差
鐳射聚焦
簡單的“定點-按鍵”操作將樣品聚焦
固定焦距高度: 0.5” (12.7 mm)
可分析不同形狀和尺寸的樣品
多準直器
靈活選擇準直器,優(yōu)化測試結果
*的靈敏性和分析速度
zui多可配6個準直器,提高應用能力
的系統(tǒng)安全性
為日常操作員設定簡單的、功能受限的用戶界面
管理員可進入系統(tǒng)進行維護
系統(tǒng)使用由操作者登錄
自動鎖定功能防止未授權的操作
結果輸出
結果可導出Excel表格或報告生成自定義
用戶可自定義統(tǒng)計分析格式
包括統(tǒng)計分析數(shù)據(jù)
獲取樣品圖象到報告中
/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920樣品臺介紹:
1、加深樣品臺
高度每半英寸(12.7mm)可調(diào),架構式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品
2、固定樣品臺
樣品臺位置固定,經(jīng)濟、實用,平面樣品臺設計,適合高,度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
3、程控樣品臺
用于自動化測量,方便根據(jù)測試位置放置樣品,并精準定位測量點,樣品臺尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬),程控臺移動距離:7" x 7",即178mm x 178mm
/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920符合以下標準:
ASTM B568: X射線光譜儀測量鍍層厚度的標準測試方法
ISO 3497: 金屬鍍層 — X 射線光譜法測量鍍層厚度
可分析多種樣品形狀和尺寸
可分析多種樣品類型,從微小的電子元件到浴室配件
提供多種硬件供選配,滿足各種需要
射線熒光鍍層測厚儀/x-ray測厚儀/熒光光譜測厚儀X-strata 920應用行業(yè)如下:
1、電子行業(yè) - 有效控制生產(chǎn)過程,提高生產(chǎn)力
分析電子件上的金和鈀的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
測量線路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
2、五金電鍍行業(yè) - 電鍍表面處理的成本zui小化,產(chǎn)量zui大化
多樣品和多點分析
單層或多層厚度測量
鍍液成份分析
3、貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
分析及其他元素測定
貴金屬合金檢測
4、*性檢測 - 確保產(chǎn)品符合規(guī)格
測定有害物質從ppm級到高百分比級
有毒元素定量分析,例如檢測鎘、汞、鉛等含量是否符合規(guī)定
按照IEC62321進行RoHS篩選
對航空焊料可靠性鑒定進行高可靠檢測
5、新能源行業(yè) - 確保產(chǎn)品有效*
光電池薄膜吸收層(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析
通過鍍層厚度分析優(yōu)化導電性
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